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- QVH4 Pro
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- 该双系统配备非接触式位移传感器,利用扫描功能测量细微阶差和 3D 形状。
- 非接触式位移传感器(CPS测头)采用波长共焦法。
- 位移传感器的LED光源具有自动亮度控制功能,可对不同反射率的材料进行无缝测量。
- 卓越的 Quick Vision Pro 型号,配备闪光灯和创新的 StrobeSnap 功能,可实现高吞吐量和精确测量。
- 对于大多数样品,测量时间缩短约 35-45%,无论测量位置是否连续,零件程序兼容性简化了零件程序的创建,从而实现高速测量。
- Quick Vision Pro 的图像自动对焦功能可以在任何条件下准确快速地测量各种表面(从镜面到粗糙表面、加工表面和塑料模制零件)的高度。
- 与传统型号相比,图像自动对焦速度提高了约 30%。
- 使用激光的跟踪自动对焦 (TAF) 功能可以快速跟踪工件在 Z 轴方向上的高度变化,与 StrobeSnap 和 STREAM 结合使用时,可显著提高测量吞吐量。
- 焦点提取 (PFF) 功能从多个横截面图像(图像对比度)生成 3D 测量结果,这些图像是通过自动聚焦不同高度的物镜捕获的,从而生成详细的 3D 形状数据。
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