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- 这种高精度双 3D 测量系统集成了 Quick Vision (QV) 系统和白光干涉仪 (WLI)。
- WLI 光学系统捕获 3D 数据，用于表面纹理和粗糙度分析，以及特定高度的尺寸和横截面测量。
- 焦点提取 (PFF) 功能通过分析多个横截面图像实现 3D 测量。
- 通过自动聚焦物镜和扫描物体，系统捕获不同高度的横截面图像，从而生成详细的 3D 形状数据。
Hyper Quick Vision
White Light Interferometer
High accuracy for non-contact
dimensional measurement
Hyper Quick Vision 白光干涉仪
高精度非接触式尺寸测量
白光干涉仪
利用白光干涉仪，Quick Vision 系列能够对微观区域进行高精度 3D 测量，从而实现表面分析、小直径孔深度测量以及电路板上的线距和间距测量。
高精度与高分辨率非接触式 2D / 3D 测量
配备白光干涉仪（WLI 光学头）的影像测量系统提供多功能测量，包括 2D 坐标和尺寸、微观表面分析、小孔深度以及印刷电路板高精度3D 布线测量。
强大的测量表面适应性
采用白光干涉仪（WLI）方法，可以测量从漫反射到镜面反射等多种表面类型。御模特的独特算法将此功能扩展到具有较大亮度差异的表面，有效处理塑料和金属的混合材料成分。
强大的支持软件 QV3DPAK
该系统从干涉条纹合成 3D 形状数据，从而实现形状可视化和在外部平台上的点云数据呈现。生成的3D数据可以使用可选的形状/评估软件进一步分析，以进行全面的形状测量和表面分析。
NON-CONTACT
2D/3D MEASUREMENT
White light interferometer (WLI optical head) applied to vision measuring systems enables a wide range of powerful measurements, from 2D measurement of coordinates and dimensions, surface analysis in microscopic areas, depth measurement of small-diameter holes, and to high-precision 3D measurement of wiring dimensions on a printed circuit board.
A WIDE VARIETY OF
MEASUREMENT SURFACES
WLI method can handle a wide variety of measurement surfaces including diffusing surfaces and mirrored surfaces. Using Mitutoyo’s proprietary algorithm, WLI can also handle surfaces with large brightness differences, e.g., where plastic and metal coexist in mixed states.
QV3DPAK
Synthesizes 3D shape data from interference fringes to display shapes or outputs point cloud data to external sources. 3D data can be transferred to the shape/evaluation analysis software (optional) to implement shape measurement and surface analysis.